納米掃描探針顯微鏡工作模式：

標(biāo)準(zhǔn)工作模式：輕敲模式(Vibration mode)，接觸模式 (Contact mode)，相位成像模式 (Phase imaging)，橫向力模式 (LFM)，力曲線測(cè)試（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力矩陣模式 （Force Mapping），摩擦力測(cè)試 （Friction Mode）

可選工作模式：導(dǎo)電原子力顯微鏡 （C-AFM），磁力顯微鏡（MFM），靜電力顯微鏡（EFM）,掃描電勢(shì)顯微鏡（SKPM），壓電力顯微鏡模式(PFM Mode)，液相模式 (Liquid Mode)

AFMWorkshop是專門從事設(shè)計(jì)和制造原子力顯微鏡的專業(yè)化公司 。公司創(chuàng)始人是有30年原子力顯微鏡經(jīng)驗(yàn)的 Paul West博士，原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

納米掃描探針顯微鏡技術(shù)參數(shù)

掃描范圍：100 μm，50 μm，15μm

Z方向范圍：17 μm，7 μm

XY方向驅(qū)動(dòng)分辨率：0.01 nm

Z方向驅(qū)動(dòng)分辨率：0.03 nm

Z方向測(cè)量噪音水平：0.15 nm

樣品尺寸：直徑25mm